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2021 - 03 - 26
中国芯片市场占国内生产总值的比重有所增加  多年来,我国的芯片产业与欧洲、美国、日本、韩国和台湾省相比一直处于弱势地位。近年来,中国研发在半导体行业的投资逐步增加,芯片市场占国内生产总值的比重持续上升。2019年,中国芯片市场占GDP的比重为0.76%,2020年前三季度,这一比重进一步上升至0.82%。  根据中国半导体协会的数据,从2013年到2020年,中国芯片市场的规模持续增长。2019年,中国芯片销售额达到7562.3亿元,同比增长15.8%。2020年前三季度,中国芯片销售额达到5905.8亿元,同比增长16.9%。  近年来,中国集成电路产量持续增长。2019年,中国集成电路产量达到2613亿片,同比增长29.5%。  从地区来看,2019年我国IC产量前三位的省份分别是江苏省、甘肃省和广东省,产量分别为516.29亿片、389.86亿片和363.24亿片,分别占全国IC产量的25.58%、19.32%和18.00%。  2020年1月6日,IC  Insights发布了中国半导体行业未来五年的展望。爱思莱特指出,有必要区分“中国半导体市场”和“中国本土半导体制造(公司总部设在中国大陆)”两个概念。目前,中国本土半导体企业与国际半导体企业在技术规模上仍有差距。  2020年,中国半导体制造业总量占整个半导体市场的15.9%,高于2010年的10.2%。预计到...
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2021 - 04 - 20
近年来,中国制造业取得了巨大成就,但面临着大而不强、全而不精的局面。制造业基础能力还很薄弱,关键核心技术受制于人,“卡脖子”、“掉链子”的风险越来越大。  具体到仪器制造行业,虽然我国在仪器制造技术研究和产品开发方面取得了长足的进步,成为世界第二大仪器仪表制造国,但也存在明显的问题,如高端仪器依赖进口、产品质量差、产品可靠性和稳定性差等。  制造业高质量发展离不开高技能人才  随着新一轮工业革命的到来,中国制造业正在从中国制造向中国创造转变。推动制造业升级,走向高质量发展迫在眉睫。2017年8月,国务院总理主持召开推进制造业强国建设座谈会,表示要推进制造业升级,走向高质量发展,要充分发挥我国丰富的人力资源优势和潜力。  随着中国经济进入高素质发展的新阶段,全社会对高素质技术人才的需求更加旺盛。数据显示,中国有2亿多技能人才,占总就业人数的26%。而高技能人才只有5000万,占技能人才总数的28%。与德国、日本等制造大国相比,差距还是很大的。  无论是实现经济增长方式由粗放型向集约型的转变,传统产业的转型升级,新兴产业的发展壮大,还是实现制造业大国向制造业强国的转变,中国的制造业向中国的创造型转变,都需要更多高素质的技术和工艺人才,更需要来自大国的熟练工匠和工匠的支持。  培养技术技能人才,职业教育大有可为  一个国家的经济社会发展离不开人才,职业教育在人才培养的“蓄水池”中起着至关...
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2021 - 05 - 18
如今,随着各种智能技术和设备的快速发展,半导体产业的重要性日益突出。半导体不仅是传统产业智能升级的基础支撑,也是推动新兴技术和产业发展的关键。基于此,最近围绕半导体领域的全球竞争变得日益激烈和升级。  竞争的焦点在半导体制造领域。自2020年以来,由于美国芯片禁令和全球疫情的影响,半导体制造和产能问题逐渐突出。为了获得对产业链的控制权,各国已经从半导体设计、封装和测试转向制造业,这引发了制造业的竞争。  其中,美国作为半导体的上游玩家,率先进入制造领域。我们知道,美国在半导体技术和设备上有优势,但制造业一直比较薄弱,主要依靠东南亚等地区。在这种背景下,为了在半导体这一关键领域获得“安全感”,美国推出了“制造业回流”战略。  在这一战略的支持下,美国于去年首次点名邀请台积电在美国建厂,意图将半导体制造巨头带入本土。今年,美国政府发布了一项相关的半导体计划,计划投资数千亿美元发展半导体制造。此外,美国还建立了涵盖英特尔和苹果等64家公司的半导体联盟。  美国觉得有必要让本土获得更强更直接的半导体制造能力,这个想法也得到欧洲的认可。欧洲在半导体设备方面也有优势,但在制造领域较弱。去年,欧洲表示,将努力生产世界20%的半导体,以便在产业链上与其他国家更好地竞争。  为实现这一目标,去年欧盟17国联合宣布《欧洲处理器和半导体科技计划联合声明》,计划未来两三年投资1450亿欧元推动半导体发展。...
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液位测量仪是一种工业自动化仪器,主要用于测量液体和粉末颗粒物料的液位高度。一般人们把测量粉体、颗粒等固体物质堆积高度或表面位置的仪器称为液位计或液位开关。测量容器如罐、塔、罐中液体高度或液位位置的仪器称为液位计。测量容器中两种互不溶解的液体或固体和液体之间界面位置的仪器称为相界面仪。那么,液位测量仪表应该如何选择才能更好地满足液位测量的要求呢?  要做好水平测量仪器的选型,我们通常从以下几点入手:  1、如果需要根据物料的粒度、物料的安息角、物料的导电性能、料仓的结构形式及测量要求进行选择。  2、在选择液位测量仪表时,必须充分了解工艺条件、被测介质的性质和测量控制系统的要求,以充分评价仪表的技术性能和经济效果,有助于保证生产、产品质量和经济效益的稳定。  3、根据被测介质的特性,选择并确定仪器采用的结构形式和材料。选择时应考虑以下因素:被测介质的压力、温度、腐蚀性和电导率;密度和密度变化;液体中含有多少悬浮物;液位扰动程度和固体物质的粒度;是否有聚合、粘度、沉淀、结晶、结膜、气化、起泡等。  4、在确定仪器的测量范围时,应根据过程对象的实际显示范围或实际变化范围来确定。除了用于体积测量的液位仪表外,正常液位应为仪表量程的50%左右。  5、在确定仪表的显示方式和功能时,应根据工艺操作和系统组成的要求来确定。当需要信号传输时,可以根据情况选择具有模拟信号输出功能或数字信号输出功能的...
发布时间: 2021 - 04 - 30
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根据电容感应原理,当被测介质被浸湿时,测量电极的高度发生变化,电容也随之变化。它可以将各种料位和液位介质高度的变化转换成标准电流信号,通过二次仪表或计算机设备传输到操作控制室进行集中显示、报警或自动控制。  该仪器从根本上解决了温度、湿度、压力、电导率等因素对测量过程的影响,因此具有很高的抗干扰性和可靠性。能够测量高腐蚀性液体,如酸、碱、盐、污水等。能测量高温高压介质;工艺温度为-40 ~ 600℃;工艺压力为-0.1~4.0MPa,独特的两点现场校准技术,方便用户轻松使用产品。  外部液位计通过测量电容的变化来测量液位。它是插入液体容器中的金属棒,金属棒作为电容的一极,容器壁作为电容的另一极。两个电极之间的介质是液体和它上面的气体。因为液体的介电常数1不同于液体表面的介电常数2。  比如:ε1ε2,当液位上升时,两电极间的总介电常数增大,电容增大。相反,当液位下降时,值减小,电容也减小。因此,液位可以通过两个电极之间电容的变化来测量,其灵敏度主要取决于两个介电常数的差异。  而且只有常数ε1和ε2才能保证液位测量的准确性。由于被测介质具有导电性,金属棒电极被绝缘层覆盖。电容式液位计体积小,易于实现远程传输和调节,适用于腐蚀性和高压介质的液位测量。  探头和变送器一分为二,连接两者的屏蔽电缆长度可达1km,可安装在恶劣环境中,特别适用于高温、振动、腐蚀、危险、远程整定等场合。液位变...
发布时间: 2021 - 04 - 29
浏览次数:278
在液位测量行业,雷达液位计已经成为用户最重要的仪表选择。这是因为雷达液位计比其他测量仪器的应用范围更广,在安装和使用上更有优势。当然,任何产品都会有自己的缺点。事实上,雷达液位计还有许多问题需要改进,这些问题正在通过我们技术水平的逐步提高而逐步得到改善。那么,我们来看看雷达液位计通常会出现什么样的误差。  一般来说,雷达液位计的误差主要来自仪表安装误差,这会干扰回波信号,造成测量误差。为此,专家提醒,安装时必须考虑储罐的高度和波束角的大小,并为雷达液位计预留足够的安装空间。  此外,还会出现以下常见错误:  1、测量死区:  测量中雷达液位计的输出为4 ~ 20mA电流。由于被测介质本身和探头的原因,在其测量中存在两个死区,即上死区和下死区。上死区液位与上参考点之间可测量的最小距离约为0.1m  ~ 0.5m下死区在探头底部,测量结果不随罐内实际液位的变化而变化。  2、被测介质引起的误差:  测量边界位置时,要求上层液体的介电常数必须比下层液体表面的介电常数大10。如果两个界面的介电常数相差不大,就会变成波型。测量时,由于液位和边界位置花费的时间基本相同,产生和返回的两个信号会重叠,影响测量结果。  3、被测液体粘度过大;  介质粘度高,液体介质很可能会粘附在探头上,影响信号传输,造成测量误差。如果粘度较高,介质会与探头相连,因此必须定期清洗探头。  4、雷达液位计自身...
发布时间: 2021 - 04 - 28
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污水处理厂主要处理造纸脱墨污水(高浓度DIP废水)造纸废水和其他生产废水。其中,高浓度DIP废水首先进行厌氧处理,然后与造纸废水等生产废水一起进入SBR好氧生物处理系统,经过三级化学处理后排放。处理过程中产生的剩余污泥集中在浓缩池中,然后送到污泥脱水装置进行脱水和外运。  液位计在污水处理的应用中占有很大的比重,几乎应用在整个污水处理的每个环节。在污水处理中,需要测量的液位包括废水、污泥和化学溶液。在采用自动控制的污水处理系统中,液位计不仅用于测量液位计,还涉及联锁泵的启动和停止以及自动控制中控制阀的打开和关闭。以上都要考虑,根据液位计的不同类型,注意不同被测液体的理化特性。  以下按照结合工艺分析一下,污水处理液位计的选型。  一、超声波液位计  超声波式液位计是利用超声波在液面处反射原理进行液位离度检测时,即应用回声测量距离原理工作的。当超声波探头向液面发射短促的超声波脉冲时,经过时间t后,探头接收到从液面反射回来的回声脉冲,因此探头到液面的距离可按下式求出:设超声波探头到容器底部的距离为h,则实际液位。式中,v为超声波在被测介质的传播的速度(也就是声速m/s),由此看出,只要知道声速v,就可以通过准确测量时间t,求出液位的高度H。  超声波液位计的特点  (1)超声波液位计可以做到非接触式测量,运行稳定可靠:超声波物位计安装于料仓、液罐上方,不直接接触物料,克服了其它型号液(...
发布时间: 2021 - 04 - 27
浏览次数:347
距离测量、密闭容器内液位检测、障碍物检测、透明物体检测、汽车防撞系统、医学成像技术等领域都是超声波传感器挥拳的场景。超声波液位计作为一种非接触式测量,因其安装简便、性能可靠、维护量少、不受液体粘度和密度影响等优点,被广泛应用于水处理、化工、石油、冶金等行业。然而,超声波液位计并不完善,它有自己不可克服的局限性,这在一定程度上限制了它的应用。那么,超声波液位计有哪些局限性呢?  一般来说,超声波液位计的局限性主要表现在以下几个方面:  1、无法在真空中工作  因为超声波传感器需要和声音一起工作,而真空中又没有空气传播的声音,所以根本无法在真空中工作。  2、不适合水下或压力容器作业  3、传感精度受软材料的影响  柔软织物覆盖的物体会吸收更多的声波,这使得传感器很难检测到目标。  4、5 ~ 10或以上的温度变化会影响感应精度  然而,随着越来越多的制造商对产品进行温度补偿,可以根据传感器启动时或在每个范围内读取之前的温度和电压变化进行校准。  5、小物体很难反射声波  如果物体很小,不能将足够的声波反射回超声波传感器,就会影响超声波液位计的测量。  6、一些特定的形状很难捕捉反射波  由于一些物体的特殊形状或位置,从物体上反射回来的超声波会偏离测量仪器。  7、挥发性介质无法测量。  如果需要在这些环境和应用场景下测量液位,一定要多加注意,慎重选择超声波液位计。
发布时间: 2021 - 04 - 26
浏览次数:443
超声波液位计是一种间接接触式液位测量仪。由于不与塔内液体直接接触,不灌水,无液体侵蚀,故障率低。同时,安装仪器时,不需要清洗塔、罐等。并直接选择好位置安装在室外,不影响工业化生产。超声波液位计具有非接触、干扰因素少、价格低廉、使用方便的特点,使其广泛应用于石油、化工、农田水利等领域的液位测量,尤其是水处理和自动控制系统。  一、超声波液位计的原理  超声波液位计的传感器(探头)发出高频超声波脉冲。当遇到被测液面时,声波被反射回来,部分反射回波被换能器(探头)接收并转换成电信号。超声波从发射到接收的时间t与传感器(探头)到被测液位的距离s成正比。距离值S、声速c、传输时间T之间的关系可以用公式表示:S=CT/2。  但由于超声波脉冲具有一定的宽度,反射波在传感器附近的短区域与透射波重叠,传感器无法识别,因此无法测量其距离值。这个距离值无法测量的区域通常称为测量盲区。一般来说,盲区的大小与超声波液位计的类型有关。超声波液位计的最大测量范围取决于空气对超声波的衰减和介质表面脉冲反射的强度。  从传感器到液位的高度s可以通过发送和接收来自传感器的超声波来测量,介质的液位高度d=L-S可以通过将从传感器到测量罐底部的距离l输入到变送器的矩阵中来测量。液位测量精度可达毫米。使用时,被测介质液位的上下限可输入变送器矩阵,上下限报警可及时输出。  二、超声波液位计的使用说明  1、安装超声波液位计...
发布时间: 2021 - 04 - 25
浏览次数:372
料位是工业生产中的一个重要参数。测量料位的方法有很多。根据不同的工作条件和介质,可以使用不同测量原理的料位仪。几种常用的料位测量仪器,如吹制法、静压式、浮球式、重锤式、超声波等,都有各自的特点和适用范围。雷达料位计采用先进的雷达测量技术,以其优异的性能显示其性能,特别是在搅拌、高温、大蒸汽、强腐蚀性介质、易结疤等恶劣测量条件下,在工业生产中发挥着越来越重要的作用。  一、原理和技术性能  雷达波是电磁波的一种特殊形式,雷达料位计利用电磁波的特殊性质来检测料位。电磁波的物理特性与可见光相似,传播速度等于光速。频率为300MHz-3000GHz。电磁波可以穿透空间蒸汽、灰尘等干扰源,遇到障碍物容易被反射。被测介质的电导率或介电常数越好,回波信号的反射效果越好。  雷达波频率越高,发射角越小,单位面积能量(磁通量或场强)越大,波衰减越小,雷达料位计的测量效果越好。  1、雷达料位计的基本原理  雷达料位计的组成:主要由发射接收装置、信号处理器、天线、操作面板、显示器、故障报警器等组成。  发射-反射-接收是雷达料位计的基本原理。雷达传感器的天线以波束的形式发射z小于5.8GHz的雷达信号。反射的信号仍然由天线接收,雷达脉冲信号从发射到接收的运行时间与传感器到介质表面的距离和物体水平成正比。  即h=H–vt/2,其中h为料位;H为沟槽高度;v为雷达波速;t为雷达波发射到接收的间隔时间; ...
发布时间: 2021 - 04 - 23
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