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2019 - 07 - 11
1、测量原理导波雷达是基于时间行程原理的测量仪表,雷达波以光速运行,运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出高频脉冲并沿缆式或杆式探头传播,当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收,并将距离信号转化为物位信号。反射的脉冲信号沿缆式或杆式探头传导至仪表电子线路部分,微处理器对此信号进行处理,识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由脉冲软件完成,距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比:D=C×T/2其中C为光速因空罐的距离E已知,则物位L为:L=E-D通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4-20mA输出。l 测量范围:说 明:H----测量范围L----空罐距离B----顶部盲区E----探头到罐壁的最小距离顶部盲区是指物料最高料面与测量参考点之间的最小距离。底部盲区是指缆绳最底部附近无法精确测量的一段距离。顶部盲区和底部盲区之间是有限测量距离。注 意:只有物料处于顶部盲区和底部盲区之间时,才能保证罐内物位的可靠测量。
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2020 - 05 - 18
励精图治,风雨兼程,开拓创新,铸造品牌—精诚瑞博   自2013年成立至今,精诚瑞博依靠过硬的产品质量和全方位的售后服务跻身国内物位行业前沿并树立了良好的品牌形象。伴随着公司规模的扩大,为进一步满足国内、外市场需求,经六个月的长期筹备和多方支持配合,2020年5月16日,北京精诚瑞博仪表有限公司完成新生产车间的租赁、装修和安装调试并顺利进场。此次车间“增容”,大大改善了原生产车间面积相对不足的各种弊端。不仅新增生产人员、也实现了原材料进厂检验区、高低温老化区、电路调试区、半成品区、组装区、调试区、独立包装区、待发区、成品区等区域划分,降低了安全隐患,提高了工作效率,同时新配备了先进的无尘研发室并带有风铃系统,专业调试台以及长达30米的无尘静音、高精度带屏蔽的电动调试轨道,意在确保每台出厂仪表的3次精度和电流校准更加专业化、规范化。1、研发室2、电路调试区3、原材料进厂检验区4、组装区5、打标区5、调试区6、成品展示区7、质检区8、独立包装区2013年成立至今,精诚瑞博一直严格秉承着“客户第一”的服务原则。生产车间的扩大,有助于我们以更专业、更严格的标准去完成仪表的各项性能检测;更大规模的原材料储备能力支持,也为我们提升工作效率、缩短从订单到使用现场的时间、为客户提供更加快捷、更加便利的售后服务提供了必要支持。更专业、更精密、更便捷、更迅速,始终是精诚瑞博对待产品...
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2022 - 10 - 24
北京精诚瑞博仪表有限公司,匠心专注产品研发,尽心满足客户需求、潜心提升客户体验。经过多年实践积累与不懈努力,精诚瑞博凭借自身实力跻身国内物位仪表行业前沿。肩负着推动民族工业发展的企业使命,在不断满足全国各地客户各种特殊工况需求的同时,也为客户带来现代工业自动化的便捷与震撼。立足新起点,奋进新征程。此次搬迁是公司发展历程中的重要里程碑,标志着公司发展进入新的阶段,也是扬帆起航的新机遇,更是公司做大做强的全新起跑线。让我们从美丽的新办公家园开始,一起见证新一轮的跨越发展!精诚瑞博,期待与您精诚合作!
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雷达物位计分类

发布日期: 2024-11-08
浏览人气: 99

雷达物位计已成为物位测量仪表市场上的主流产品,主要分为雷达物位计和导波雷达物位计。


雷达物位计发射功率很低的极短的微波通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使存在虚假反射的时候,最新的微处理技术和软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸,可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。在固体测量中的应用可以使用K-频段的高频传感器。由于信号的聚焦效果非常好,料仓内的安装物或仓壁的粘附物都不会影响测量。


导波雷达物位计的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行,接触到被测介质后,微波脉冲被反射回来,并被电子部件接收,并分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波,分析计算后将它转换成物位信号给出。由于测量原理简单,可以不带料调整,从而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短,使之更加适应现场的应用。对于蒸汽不敏感,即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下,测量精度也不受到影响。不受介质特性变化的影响,被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。粘附:没有问题,在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。容器内安装物如果采用同轴套管式的测量完全不受容器内安装物的影响,不需要特殊调试。可以提供不同形式的探头用于不同应用:缆式,用于测量液体介质或重量大的固体介质,量程可达60米;棒式,用于测量液体介质或重量轻的固体介质,量程可达6;同轴套管,用于测量低黏度的介质,不受过程条件的影响,量程可达6米。


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